适用范围：

1.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜。

2.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试。

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜。

4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等。

注意事项：

1.仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作。

2.仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象。

3.轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量。

4.探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针。