- 高频介电常数介损的使用方法
- 点击次数：449 更新时间：2024-07-30
大家在日常使用高频介电常数介损的时候不熟悉具体如何操作的，下面我来为大家介绍一下：
1平板电容器动极片 2 平板电容器定极片
3 有棘轮测力功能的调节杆，当二电极夹持样品具有一定压力时，棘轮会发出“咯咯"声，表明压力合适。
4 高电平接插件 5 低电平接插件 6 ON/OFF---SET 键
7 ABS/INC---UNIT 键 8 数据输出键
9 RS232数据输出口（LCD屏背面） 10 电池盖（LCD屏背面）
把被测样品用钳子置于平板电容器的动极片（1）和定极片（2）之间，调节平板电容器的测微头，到二极片夹住样品止。这时数显测微头显示的数值即为样品厚度（ta）。为消除样品和极片之间间隙，可转动样品多次测量，样品厚度以最小值为准，如样品有双层金属薄膜，计算ta要减去2倍薄膜厚度.。
4.5.4 调节Q表的调谐电容器，使其谐振，此时读取Q值记为Q1，调谐电容的刻度记为C1。
4.5.5 松开平板电容器极片，取出被测样品，然后平板电容器仍在置于有样品时的实际厚度值（ta），保持极片实际距离和有样品时一致。
4.5.6 再次调节Q表的调谐电容器，再次谐振，此时读取的Q值为Qo（Qo总是比Q1高，对优质绝缘材料，二者较接近，要仔细调谐,要使用Q表的“Q记忆"功能。调谐电容的刻度记为C0（C0总是比C1大）对低介电常数材料，电容值变化较小，要仔细读取电容变化值。使用WY2852DQ表时要使用△C功能，当然使用WY2852A或WY2853A型自动Q表则得到更精确的电容变化值，因为自动Q表提高了电容值刻度读数的分辩率，提高测试ε正确度。
4.5.7试样的损耗因数计算公式为：
注意：在操作中要十分注意样品的清洁，要戴手套或用镊子取放样品。
下面推荐一种能提高测试精确性的方法：准备二片厚0.05mm的圆形锡膜或铝膜。直径和平板电容器极片一致，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘附作用，又能排除接触面之间残余空气。然后把锡膜再粘在被测样品上或平板电容器两个极片上，粘好后要仔细平整，使平面呈镜面状为佳。
4.4 测试前准备：
先要详细了解本装置配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响，即调节本装置时，手臂尽可能离开本装置。
4.4.1检查测试装置二极片平行度。
a) 本测试装置的动极片和定极片的平行度应优于0.02mm。也可以测量二极片之间的电容量来检查，当测试装置测微头置于0.02mm时，用数字电桥测得电容值300-500 pF之间即认为符合平行度要求。
b) 本测试装置在出厂前已完成平行度测试。装置如长期不用或受到冲击等原因，需要重新返厂调整，用户不得擅自调整。本装置底部有三个调节螺钉，但一定要具备相应设备才能进行，否则会损坏本装置。
4.4.2检查Q表是否正常工作
a ) 将250-350μH电感器（一般先用250μH），接在Q表“Lx"接线柱上。
b) 频率调至1MHz。
c ) 微调电容器置于“0pF"处（只有WY2852D，WY2851D 有微调电容），调节Q表调谐电容器，使其谐振，Q值应指示在180左右，调谐电容值刻度在100pF附近，表示Q表处于正常工作状态。
4.5 国标GB/T 1409-2006，推荐Q表法测试绝缘材料的介质损耗因数和介电常数程序：
4.5.1 先完成4.3和4.4条规定的测试前准备基础上进行正常测试。
4.5.2 把本测试装置WY916D插到Q表测试回路的“Cx"二个端子上（如下图）。先调节测微头（3），使二个极片相接触，快速按ABS/INC键
1 概述
介质损耗测试装置和GDAT系列Q表（最佳Q表是WY2852A或W自动Q表）及电感器配用。能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006，GB/T 1693-2007，美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2 工作特性
2.1 平板电容器：
2.1.1极片尺寸：
916D-38: φ38mm。
916D-50 φ50 mm。
2.1.2 极片间距可调范围和分辨率：
≥7mm，±0.001mm
2.2 装置插头间距：
25mm±1mm
2.3 装置损耗角正切值：
≤4×10-4（1MHz时）
2.4 使用环境湿度要求※（非常重要）：
相对湿度:<60%
3 工作原理
本测试装置是由二块圆形电极片组成平板电容器。平板电容器一般用来夹被测样品。平板状的绝缘材料的损耗角正切值和介电常数是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q表Q值显示变化量的大小以及调谐电容值变化。同时，由平板电容器的数字测微头测得样品厚度而换算得到ε和tanδ值。自动Q表的机内计算机会自动计算并显示于彩屏上。
测量误差主要来自二次指示器的标定刻度，以及在连线中尤其是在可变电容器和试样的连线中所引入的阻抗。
4.7 其他应用使用方法：
使用本测试装置和Q表配用，对绝缘材料以及其它高阻性能的薄材，例如：优质纸张、优质木材、粉压片料等，进行相对测量。其测试方法就非常简便、实用。采取被测样品和标准样品相比较方法，就能灵敏地区别二者之间的细微差别，例如含水量，配用原料变动等等。
测试时先把标准样品放入平板电容器，调节Q表频率，谐振后读得Q值。再换上被测样品，调节Q表调谐电容器，再谐振，看Q值变化，如Q值变化很小，说明标准样品和被测样品高频损耗值一致，反之，说明二者性能有区别。
5 维修方法
本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，平时不使用最好在干燥瓶中存放。用户不能自行拆装。否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查。要验测以下几个指标：
5.1 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。
5.2 保证测微杆0.01mm分辨率。
5.3装置损耗角正切值：≤4×10-4（1MHz时）
6 本公司主要产品介绍
6.1 高频Q表系列
WY2851/A/D:0.05～50MHz,WY2852A/D型：1kHz～70MHz,WY2853A/D：0.05～160MHz
6.2 电视图像信号发生器系列：
6.3 信号源系列,
6.4 毫伏表系列,
6.5 函数信号源，低频信号源频率计和LCR数字电桥系列等。
