- 体积表面体积电阻率测试仪精度与测量范围分析
- 点击次数：673 更新时间：2025-04-28
体积表面体积电阻率测试仪精度与测量范围分析
一、体积表面体积电阻率测试仪核心测量范围
电阻测量范围
基础范围：主流设备覆盖 1×10⁴Ω至1×10¹⁸Ω，通过量程扩展技术可支持更高电阻（如20次方）。
细分场景：
防静电材料：1×10⁶Ω至1×10¹²Ω（三电极法）；
绝缘材料：1×10¹²Ω至1×10¹⁶Ω（四电极法）；
半导体/金属：0.01×10⁴Ω至1×10¹⁸Ω（非接触式测量）。
电流灵敏度
微电流检测能力达 0.01pA（1×10⁻¹⁴A），支持高阻材料的漏电流精准捕捉。
动态电流范围：2×10⁻⁴A至1×10⁻¹⁶A，适应导体到绝缘体的全谱测试需求。
测试电压适配
电压调节范围 1V至1500V（可定制），典型测试电压为 10V/50V/100V/250V/500V/1000V 六挡位。
高电压（≥500V）适用于厚层绝缘材料，低电压（≤100V）用于薄膜/纳米涂层以减少击穿风险。
二、体积表面体积电阻率测试仪精度等级与误差控制
基础精度
常规量程（10⁴Ω至10¹²Ω）：误差 ≤1%，通过自动量程切换技术优化；
高阻量程（10¹²Ω至10¹⁸Ω）：误差 ≤5%（部分型号可达 ±0.8%）；
高阻（>10¹⁸Ω）：误差扩大至 10%~20%，需配合屏蔽环境使用。
精度提升技术
温度补偿算法：实时校准环境温度（0℃~40℃）对电阻率的影响，误差降低 30%；
三同轴屏蔽设计：抑制电磁干扰，确保p微电流稳定性（波动<0.5%）；
双显示模式：同步显示电阻值与电流值，交叉验证数据可靠性
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