- GDAT-A高频介电常数测试仪
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GDAT-A高频介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
GDAT-A高频介电常数测试仪技术参数
信号源范围DDS数字合成信号
10KHZ-70MHz
10KHZ-110MHz
100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比
7000:1
11000:1
16000:1
信号源频率精度 6位有效数
3×10-5 ±1个字
3×10-5 ±1个字
3×10-5 ±1个字
Q测量范围
1-1000自动/手动量程
1-1000自动/手动量程
1-1000自动/手动量程
Q分辨率
4位有效数,分辨率0.1
4位有效数,分辨率0.1
4位有效数,分辨率0.1
Q测量工作误差
<5%
<5%
<5%
电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH
1nH-8.4H , 分辨率0.1nH
1nH-8.4H 分辨率0.1nH
1nH-140mH分辨率0.1nH
电感测量误差
<5%
<5%
<5%
调谐电容
主电容30-540pF
主电容30-540pF
主电容17-240pF
电容直接测量范围
1pF～2.5uF
1pF～2.5uF
1pF～25nF
调谐电容误差
分辨率
±1 pF或<1%
0.1pF
±1 pF或<1%
0.1pF
±1 pF或<1%
0.1pF
谐振点搜索
自动扫描
自动扫描
自动扫描
Q合格预置范围
5-1000声光提示
5-1000声光提示
5-1000声光提示
Q量程切换
自动/手动
自动/手动
自动/手动
LCD显示参数
F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能有
有
有
大电容值直接测量显示功能
测量值可达2.5uF
测量值可达2.5uF
测量值可达25nF
介质损耗系数
精度 万分之五
精度 万分之五
精度 万分之五
备注说明:
三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号
电极规格
固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm
液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
粉体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM
产品配置：
1、测试主机：一台
2、测试电感：9个
3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）
