材料超低电阻及电阻率测试仪本仪器采用四端测量方式，测试材料超低电阻、电阻率和高导电性能数据。该仪器采用高精度直流恒流恒压源，高效率，稳定度和准确性高；有手动和自动设定模式；并根据测试产品特性自动转换测试量程，无需手动调节和设定。4.3吋液晶屏幕显示，自动显示测试测试电流、电压、温度、电阻率、电导率、电阻值、方阻等数据，单位可以转换；选配：如配备软件可通过软件操控仪器工作，并获得测试数据之图表和测试结果报表，有助于对产品过程质量分析；根据产品形状不同可以选配测试治具.辅助测量。

适用：电线电缆行业、导体及半导体材料行业，碳素、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部门对新材料之研究，是检验和分析材料样品质量的一种重要的工具及有效方法。

满足标准： GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2、 ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005、YS/T 64-1993。GB3048.2-2007、GB/T3048.4-2007、GB/T3952-2008、GB/T3953-2009、GB/T3954-2008、GB/T3955-2009、GB/T3956-2008同时也适用于对导体材料电导率高要求之测试超低值电阻及电阻率测量.

技术参数

1、电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

电   阻：1×10-5～2×105Ω

电导率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
测量误差±5%
2、测量电压量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   测量精度±（0.1%读数）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。
   ⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶误差：±0.2%读数±2字

4. 主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm

5、显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ

7、标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

测量范围、分辨率（括号内为拓展量程，可定制）

材料超低电阻及电阻率测试仪概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，zui小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的zui小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.

广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等