1MHZ介电常数测试仪上电极半球状+下电极平板状结构设计，可以精确定位测量被测样品，从而提高重复性和稳定性更好。用弹簧设计的夹具系统，改善可能因夹具装配误差而导致测量过程中接触不良的现象；弹簧的弹性经过反复试验，既不损伤样品又能实现样品的良好接触，确保测量的稳定性和可靠性；“傻瓜式"软件设计，具有简单易操作的软件界面，让新人也能轻松掌握；

1MHZ介电常数测试仪调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为D0。安装电感。再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D1，这时样品厚度D2= D1－D0。

将右下方旋钮顺时针拧到头。

开机，触摸电感两边的上下按钮选择电感；按照提示，通过左下方旋钮钮调节通道。

按“搜索"频率，Q达到最大，自动锁定频率。

（如Q比较小，再次按搜索；还可以通过“频率"下方的上下按钮键手动调节频率找到最佳谐振频率；快速按频率下方的上下键，频率改变自动变快，慢慢按频率上下按钮，频率改变增减1）

取出平板电容器中的样品（切记不要调节频率），这时Q值变小（失谐），调节平板电容器，使再谐振（只调节平板电容，不调节频率，Q再次达到最大），读取测微杆上的读值D3，其变化值为D4= D3－D0。

被测样品的介电常数：Σ＝D2 / D4

注意事项

1 谐振状态时，时间不能太长，以免电源过热。

2 不同电感谐振频率范围不同，也可以通过右下方旋钮（辅助电容）找到选定的谐振频率。

3 必要时，自动粗略搜索后，须手动慢慢精细调节。

谐振状态时，时间不能太长，以免电源过热

不同电感谐振频率范围不同：

测损耗角正切值

把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止。

右下方旋钮顺时针拧到头。

开机，按电感左右的上下键选择电感；按照提示，通过左下方旋钮调节通道。

自动搜索频率，使之谐振，读得Cx值，记为C1。

取出平板电容器中的样品，调节平板电容器，使它再回到夹住样品的间距。

自动搜索频率，使之谐振，读得Cx值，记为C2。

把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止。

把园筒电容器置于10mm处。

自动搜索频率，使之谐振，读得Q值。

先顺时针方向，调节园筒电容器，读取当Q值为原值的一半时测微杆上一个刻度值；后逆时针方向，调节园筒电容器，再次读取当Q值为原值的一半时测微杆上一个刻度值，取这二个值之差，记为M1。

取出平板电容器中的样品，调节平板电容器，使它再回到夹住样品的间距。

概述

数字Q表工作频率范围是1kHz～70MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。

它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以专用介质损耗装置还能对绝缘材料的介电常数和高频介质损耗进行测量，并完成自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。

1.1 特点：

◎ 参数全数字处理和显示，没有传统Q表的电容刻度盘，可以在本机频率范围内任意点测试有效电感和Q值。

◎ 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。

◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。

◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。

◎ 特制TFT彩屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，电容值，电感值等。

Q值量程自动/手动量程控制。

USB 接口(选购件)。

◎数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。

所以本仪器使用方便，具有高测量精度和理想的稳定度。能广泛地用于科研机关、工厂等单位。

2 工作特性

2.1 Q值测量：

2.1.1 Q值测量范围：5～1,000四位数显，分辨率0.1Q

2.1.2 Q值量程分档： 100、316、999三档，量程可自动切换。

2.1.3 标称误差：（※）

频率范围：50kHz～10MHz         频率范围：10MHz～25MHz

固有误差：±5%±满刻度的2%     固有误差:﹤±8%±满刻度的2%

工作误差：±7%±满刻度的2%     工作误差:﹤±10%±满刻度的2%

频率范围：25MHz～50MHz

固有误差：±12%±满刻度的2%

工作误差：±15%±满刻度的2%

 Q值误差说明：

均值为定标值（按照国家计量单位检定规程：JJF1073-2000高频Q表校准规范）。

具体修正系数见第13页测Q值修正值（K值）表

2.2 电感测量：

2.2.1 测量范围：20nH～5H，四位数显。单位分别为：H，mH, μH和nH

2.2.2 测量误差：﹤3%±20nH。

2.3 调谐电容器特性：

2.3.1 电容量范围：28～490pF，四位数显。

2.3.2 误差：≤±1% ±1pF

2.3.3 显示分辨率：±0.1pF

2.4 测试信号频率范围及误差：

2.4.1 1kHz～70MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，四位数显。

2.4.2 频率误差：＜0.05%

2.5 Q合格指示预置：

2.5.1 预置范围：Q值测试范围内都可以。

2.5.2 设置误差：±2个字。

2.6 正常工作条件：

2.6.1 环境温度：-0℃～+40℃

2.6.2 相对湿度：＜80%

2.6.3 大气压力：750±30mmHg

2.6.4 电源：220V±10%  50Hz±4%

2.7 其它：

2.7.1 消耗功率：约20W。

2.7.2 净重：7kg

2.7.3 外形尺寸：415(长)×180(高)×170(宽)（mm）。

2.8 仪器成套及备附件

数字Q表-------------------------------------------1台

电源线-----------------------------------------------------1根

软件（选购件）---------------------------------------------1根

使用说明书-------------------------------------------------1份

合格证（贴于合格仪器上）-----------------------------------1份

若取n=2，则为：C0=（C1-4C2）/3    （14）

若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为精确。

5.5.2 自然频率法：（此法可获得较准确的结果）

a）将被测线圈接在“Lx"接线柱上。

b）调节调谐器使CR显示为最大值，如480pF,记为C1。

c）调节信号源频率（9），使回路谐振，该频率为f1。

d）取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的辅助电感。

e）频率设置于10倍f1位置，调节主调电容器到谐振点。

f）将被测线圈接在“Cx"两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读调低些。

g）再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振。

h）重复“f"、“g"直到某一频率，被测线圈接上“Cx"两端和不接上去均不改变谐振点，这一频率为被测线圈的自然谐振频率f2，它的Co数值： 

注：测量中所需辅助线圈可自制或向Q表产生厂购买电感组。

5.6 电容器参数的测量：

5.6.1 小于460pF电容器的测量：

a）取一个适当的谐振电感连接到“Lx“端。 

b）调谐电容器调到最大值附近，令这个电容是C1，如未知电容是小数值的，C1应调到较小电容值附近，以便得到尽可能高的分辨率。

c）调信号源的频率，使测试回路谐振，令谐振时Q表的读数为Q1。

d）将被测电容接在“Cx"两端，调节调谐电容器，使测试电路再谐振，令新的调谐电容值为C2和指示Q值Q2。

被测电容的有效电容由下式给出：

Cx=C1-C2            （16）

电容器的损耗角正切tgδ由下式给出：

5.4.3 仔细，缓慢调节调谐电容器（13），直至谐振，这时显示的Q1和C1是有样品的测得值。

5.4.4 再次按“NET"键显示界面

调节测试装置测微头，松开二电极，取出被测样品。再调节测微头至有样品时厚度值处。

5.4.5 再一次调节调谐电容使其谐振，当Q0显示最大值时，这时显示的ε, tanδ值即为被测样品的相对介电常数和损耗角正切值。

5.4.6 重新按一次“NET"键，即可进入下一次ε,和tanδ测量程序，同时通过USB口可输出测量数据，或按“Σ测量"键，回复到测电感器Q值和电感值的程序。

5.5 高频线圈分布电容Co的测量（供参考）：

5.5.1倍频率法：

如线圈的分布电容较大，可用此法作近似测试。

将被测线圈接在“Lx"接线柱上，调谐电容器到最大电容数值，调节信号源频率到谐振，令谐振时频率和调谐电容分别是f1和C1，然后将信号源频率调到f2（f2=nf1），再调谐电容器到谐振点，此时电容读数为C2，根据下式即可求出分布电容量。 

3 工作原理：

3.1 “Q"的定义：
 符号“Q"表明一个元件或一个系统的质量，它等于每振荡一周间贮藏能量对损耗比值的2π倍。按数值计算它是在测试频率的电抗对电阻的比率。 

通过一个简单的串联谐振电路说明“Q"表工作原理。

示回路中，串联引入一个幅度为e频率为f地电动势。谐振时

如果e保持常数（已知电平）一个约定的电压表连于回路电容的两端，电压表的指示直接用回路Q的单位进行定标，从而能直接读出回路的Q值。

串联谐振电路中，有效电阻R，除被测电感有效电阻外，还包括Q表内部调谐电容器，指示电压表，宽带变压器和接线柱等损耗等效电阻值。所以Q表测得值将稍低于被测电感的实际的有效Q值。

基于上述理由，为了正确地测量元件的Q值，还需要考虑到测试回路中残余参数的影响。