- 1MHZ介质损耗因数测试仪
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1MHZ介质损耗因数测试仪
①电桥法:将被测件接在电桥的测量臂上,根据接入前后电桥平衡时电容和电阻(或相移和衰减)的变化量可以算出ε′和tanδ,这种方法可用于10~10赫的频率范围,并适于测量损耗较大的电介质。
②传输线法:将被测件与测量线终端的短路波导或同轴线相连接,通过测量接入前后驻波节点位置和驻波系数的变化量可以算出ε′和tanδ。这种方法可用于10~10赫的频率范围,适于测量损耗量中的电介质。
③谐振法:将被测件接在谐振回路(或谐振腔)中,通过测量接入前后回路电容和Q值(或腔长和Q值)的变化量可以算出ε′和tanδ。这种方法可用于10~10赫的频率范围,适于测量损耗较小的电介质。GCSTD-A/B
宽带法包括阶跃法和时域法。利用电介质对阶跃波(或电脉冲)的响应,即电介质的电特性与频域散射参数S(ω)的关系,通过时域测量和傅里叶变换求出在不同频率下的ε′和tanδ。这种方法可用于10~10赫的频率范围。
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
仪器的技术指标
1.Q值测量范围:2~1023
2.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
3.电感测量范围:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。
4.电容直接测量范围:1~460pF
5.主电容调节范围: 30~500pF
6.电容准确度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1% 7.信号源频率覆盖范围100KHz-70MHz (双频对向搜索 确保频率不被外界干扰)另有GDAT-C 频率范围200KHZ-100MHz
8、型号频率指示误差:1*10-6 ±1
Q值合格指示预置功能范围:5~1000
Q值自动锁定,无需人工搜索
9.Q表正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
1MHZ介质损耗因数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
9个电感规格:介质损耗因数测试仪
电感No
电感量
准确度%
Q值≥
分布电容约略值
谐振频率范围 MHz
适合介电常数测试频率
GCSTD/A/AI
GCSTD-B
1
0.1μH
±0.05μH
200
5pF
20~70
31~103
50MHz
2
0.5μH
±0.05μH
200
5pF
10~37
14.8~46.6
15MHz
3
2.5μH
±5%
200
5pF
4.6~17.4
6.8~21.4
10MHz
4
10μH
±5%
200
6pF
2.3~8.6
3.4~10.55
5MHz
5
50μH
±5%
200
6pF
1~3.75
1.5~4.55
1.5MHz
6
100μH
±5%
200
6pF
0.75~2.64
1.06~3.20
1MHz
7
1mH
±5%
150
8pF
0.23~0.84
0.34~1.02
0.5MHz
8
5mH
±5%
130
8pF
0.1~0.33
0.148~0.39
0.25MHz
9
10mH
±5%
90
8pF
0.072~0.26
0.107~0.32
0.1MHz