- 差热分析仪氧化测试试验
- 差热分析仪氧化测试试验
差热分析仪氧化测试试验技术参数:
1. DSC量程: 0~±500mW
2. 温度范围: 室温~800℃ 风冷
3. 升温速率: 1~80℃/min
4. 温度分辨率:0.1℃
5. 温度灵敏度:0.1℃
6. 重复性偏差:优于1%
7. DSC噪声: 0.01mW
8. DSC解析度:0.01mW
9. DSC灵敏度: 0.01mW
10.控温方式: 升温、恒温(全程序自动控制)
11.曲线扫描: 升温扫描
12.气氛控制: 仪器自动切换
13.显示方式: 24bit色,7寸 LCD触摸屏显示
14.数据接口: 标准USB接口
15.参数标准: 配有标准物质(锡),用户可自行校正温度和热焓
差热分析仪氧化测试试验主要特点:
1. 全封闭式金属炉体设计结构,大大提升解析度和分辨率以及更好的基线稳定性。
2. 采用合金传感器,更抗腐蚀,抗氧化,传感器灵敏度高。
3. 完善的两路气氛控制系统,控制吹扫气体流量,软件设置自动切换,数据直接记录在数据库中。
4. 采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更。
5. 采用USB双向通讯,操作更便捷,支持自恢复连接功能。
6. 采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,实时显示仪器的状态和数据。
7. 仪器配有标准物质,用户可自行进行各温度段的校正,减少仪器的误差。
8. 智能化软件设计,仪器全程自动绘图,软件可实现各种数据处理,如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。
参考标准:
GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分:玻璃化转变温度的测定;
GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分:熔融和结晶温度及热焓的测定;
GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期 氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动要态OIT)的测定。