碳纸平面低电阻率测定仪标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.碳纸平面低电阻率测定仪的电学性质。四探针电导率测量方法是通过在材料表面放置四个电极，其中两个电极用于施加电压，另外两个电极用于测量电流，从而测量材料的电导率。四探针电导率测量方法的优点是可以减少电极接触电阻对测量结果的影响，从而提高测量精度。此外，四探针电导率测量方法还可以用于测量高电导率材料，如金属和导体。四探针电导率测量方法的原理是根据欧姆定律，电流与电压之间的关系是线性的。当施加电压时，电流通过材料，根据欧姆定律，电流与电压之间的关系可以表示为I=V/R，其中I是电流，v是电压。

四探针电导率测量方法的应用非常广泛，例如在半导体材料研究中，可以用四探针电导率测量方法来研究半导体材料的电学性质。此外在材料工程中，四探针电导率测量方法也可以用于研究材料的导电性能，从而优化材料的性能。四探针电导率测量方法是一种非常重要的测量材料电学性质的方法它可以用于研究材料的电导率，从而为材料研究和工程应用提供重要的参考。