聚乙烯薄膜介电常数测定仪固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

聚乙烯薄膜介电常数测定仪

外壳由绝缘套筒及钢板制成的底和盖组成，底和盖用螺栓及环紧固在绝缘套筒的两端。在电容器的上下两端有防晕罩。电容器外壳内装有同轴高度抛光的圆柱形高低压电极。电容器设有压力表及气阀，供观察内部压力及充放气使用

技术参数：

1. 电容器安装运行海拔不超过1000米，使用周围空气温度-10℃~40℃，相对湿度不超过70%。

2. 电容器的工作频率为100Hz。

3. 电容器实测值误差不大于±0.05%，与标称值误差不大于±3%

4. 电容器温度系数 ≤ 3×10-5 /℃

5. 电容器压力系数 ≤ 3×10-3Mpa

6. 电容器的损耗角正切值不大于1×10-5 、2×10-5 、5×10-5 三档。

电容器内充SF6气体。在20℃时，压力为0.4±0.1Mpa

固体绝缘材料测试电极本电极适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和 玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试本电极主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ

本电极的设计主要是参照国标GB1409。

本电极采用的是三电极式结构，能有效的表面漏电流的影响，使测量电极下的电场趋于均匀电场

主要技术指标

环境温度：20±5℃

相对湿度：65±5%

高低压电极之间距离：0~5mm可调

百分表示值：0.01mm(一粒1.5V氧化银电池供电)

测量极直径：70±0.1mm

空极tgδ：≤5×10-5

空极电容量：40±1pF

高测试电压：2000V

实验频率：50/100Hz

体积：Ф210mm H180mm

重量：6kg

[GB/T 12636-90]微波介质基片复介电常数带状线测1~20 GHz 2~25 0.0005~0.01 试方法

[QJ 1990.3-90]电绝缘粘合剂电性能测试方法工频、工频、高频适用于电绝缘粘合剂

高频下介质损耗角正切及相对介电常数的测量(1 MHz 以下)

[SJ 20512-1995]微波大损耗固体材料复介电常数和

2~40 GHz 2~100 <1.2 适用于微波大损耗固体材料

复磁导率测试方法

[SJ/T 1147-93]电容器用有机薄膜介质损耗角正切值工频、1 kHz、1 适用于电容器用有机薄膜

和介电常数试验方法MHz

[SJ/T 10142-91]电介质材料微波复介电常数测试方4~12 GHz 4~80 0.1~1 适用于电介质材料、同轴线终端开路

法同轴线终端开路法法

[SJ/T 10143-91]固体电介质微波复介电常数测试方

法——重入腔法 100~1000 MHz <20 0.0002~0.02 适用于电介质材料、重入腔法

[SJ/T 11043-96]电子玻璃高频介质损耗和介电常数

50~50 MHz 适用于电子玻璃

的测试方法

低频、射频、适用于岩样、本方法所指低频为1

[SY/T 6528-2002]岩样介电常数测量方法KHz~15 MHz、射频为20 MHz~0.27 超高频

GHz、超高频为0.2 GHz~3 GHz

3.2. 传输线法

传输线法是网络法的一种，是将介质置入测试系统适当位置作为单端口或双端口网络。双端口情况下，通过测量网络的s 参数来得到微波的电磁参数。图1 为双端口传输线法的原理示意图。其中，Γ 表示空气样品的反射系数，g 为传播系数，l同时测量传输系数或者反射系数的相位和幅度，改变样品长度或者测量频率，测出这时的幅度响应，联立方程组就能够求出相对介电常数。单端口情况下，通过测量复反射系数Γ 来得到、料的复介电常数。因此常见的方法有填充样品传输线段法、样品填充同轴线终端法和将样品置于开口传输线终端测量的方法[27]。第一种方法通过改变样品长度及测量频率来测量幅度响应，求出εr。这种方法可以测得传输波和反射波极小点随样品长度及频率的变换，同时能够避免复超越方程和的迭代求解。但这一种方法仅限于低、中损耗介质，对于高损耗介质，样品中没有多次反射。传输线法适用于εr 较大的固体及液体，而对于εr 比较小的气体不太适用。早在 2002年用传输反射法就能够实现对任意厚度的样品在任意频率上进行复介电常数的稳定测量NRW T/R 法(即基于传输/反射参数的传输线法)的优势是简单、精度高并且适用于波导和同轴系统。但该方法在样品厚度是测量频率对应的半个波导波长的整数倍时并不稳定。同时此方法存在着多值问题，通常选择不同频率或不同厚度的样品进行测量较浪费时间并且不方便。此外就是对于极薄的材料不能进行高精度测量[28]。反射法测量介电常数的早应用是Decreton 和Gardial 在1974 年通过测量开口波导系统的反射系数推导出待测样品的介电常数。同轴反射法是反射法的推广和深化，即把待测样品等效为两端口网络，通过网络分析仪测量该网络的散射系数，据此测试出材料的介电常数。结果显示，同轴反射法在测量高损耗材料介电常数上有一定可行性，可以测量和计算大多数高损耗电介质的介电常数，对谐振腔法不能测量高损耗材料介电常数的情况有非常大的补充应用价值[29]。2006 年又提出了一种测量低损耗薄膜材料介电常数的标量法。该方法运用了传输线法测量原理，首先测量待测介质损耗，间接得出反射系数，然后由反射系数与介电常数的关系式推出介质的介电常数。其薄膜可以分为低损耗、高损耗和高反射三类，通过实验证明了三种薄膜的损耗随频率改变基本呈相同的变化趋势，高频稍有差别，允许误差范围内可近似。该方法切实可行，但不适用于测量表面粗糙的介质