- 镀膜介电常数测定仪
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镀膜介电常数测定仪触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能:10档分选及计数功能
显示器;320×240点阵图形LCD显示
存储器 :可保存20组仪器设定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）
工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，
精度：±0.02%
电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显
电容测量基本误差：±0.05%
损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显
介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。
它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。
微分头分辨率：10μm
最高耐压：±42Vp（AC+DC）
电缆长度设置：1m
镀膜介电常数测定仪介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
列介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～5MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。
设备中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。
1 特点：
◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。◎ 介电常数测量范围可达1～105
2 主要技术指标：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz～1MHz的ε和D变化的测试。
2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
介质材料测试装置提供四种不同直径测试电极，
能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。它针对不同试样
可设置为接触电极法，薄膜电极法和
非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。
2.4.1 微分头分辨率：10μm
2.4.2 最高耐压：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 电缆长度设置：1m
2.4.4 最高使用频率：30MHz
B．自然频率法（此法可获得较准确的结果） a．将被测线圈接在“Lx"接线柱上；
b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到最大电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1；
d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点；
f. 将被测线圈接在“Cx"两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些；
g. 再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振；
h. 重复步骤“f"、“g"直到某一频率，被测线圈接上“Cx"两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2，它的C0数值为：
