- 1MHz陶瓷介电常数测试仪
- 1MHz陶瓷介电常数测试仪
1MHz陶瓷介电常数测试仪电常数测试装置(含保护电极)平板电容器极片尺寸:Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三种可选.平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.001mm插头间距:与电桥四端配合
1MHz陶瓷介电常数测试仪介质材料测试装置提供四种不同直径测试电极,
能对直径φ10~56mm,厚度<10mm的试样精确测量。它针对不同试样
可设置为接触电极法,薄膜电极法和非接触法三种,以适应软材料,表面不平整和薄膜试样测试。 微分头分辨率:10μm最高耐压:±42Vp(AC+DC)电缆长度设置:1m 最高使用频率:30MHz
满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法准确度ALC ON 10% x设定电流 + 20μAALC OFF 6% x设定电压 + 20μADC偏置电压源电压 / 电流范围:0V—±5V / 0mA—±50mA分辨率:0.5mV / 5μA电压准确度:1% x设定电压 + 5mVISO ON:用于电感、变压器加偏置测试AC源内阻ISO ON:100ΩISO OFF:30Ω、50Ω、
电源电压:220V±20%,50Hz±2Hz功耗80VA体积(W×H×D): 280 mm × 88 mm × 370 mm(无护套),369 mm × 108 mm × 408 mm(带护套)。重量:约5kg将在以后的测试过程中进行开路校正计算。如果频率1,频率2。设置为OFF, 开路校正计算采用插入法所计算出的当前频率的开路校正数据。如果频率1,频率2 设置为ON, 同时当前测试频率等于频率1,频率2, 则频率1,频率2 的开路校正数据将被用于开路校正的计算。
平衡测试功能变压器参数测试功能测试速度:13ms/次电压或电流的自动电平调整(ALC)功能V、I 测试信号电平监视功能内部自带直流偏置源可外接大电流直流偏置源10点列表扫描测试功能30Ω、50Ω、100Ω可选内阻内建比较器,10档分选和计数功能内部文件存储和外部U盘文件保存测量数据可直接保存到U盘RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
选件,DCI与GPIB 只能2者选1通用技术参数工作温度, 湿度:0℃-40℃, ≤ 90%RH
列表扫描10点列表扫描可对频率、AC电压/电流、内/外DC偏置电压/电流进行扫描测试每扫描点可单独分选内部非易失性存储器:100组LCRZ仪器设定文件,201次测试结果外部USB存储器GIF图像LCRZ仪器设定文件测试数据USB存储器直接存储
接口I/O接口:HANDLER,从仪器后面板输出串行通讯接口:USB、RS232C并行通讯接口:GPIB接口(选件)网络接口:LAN存储器接口:USB HOST(前面板)偏置电流源控制接口DCI
技术参数显示器:480×RGB×272,4.3寸TFT LCD显示器。测试信号频率:20Hz—1MHz分辨率:10mHz,4位频率输入准确度:0.01%AC电平测试信号电压范围:10mV—2Vrms电压分辨率:100μV,3位输入准确度ALC ON 10% x设定电压 + 2mVALC OFF 6% x设定电压 + 2mV测试信号电流范围:100μA—20mA电流分辨率:1μA,3位输入
性能特点4.3寸TFT液晶显示中英文可选操作界面高1MHz的测试频率,10mHz分辨率
GDAT-S 的短路校正功能能消除与被测元件相串联的寄生阻抗(R, X)造成的误差。
移动光标至短路设定域,屏幕软键区显示下列软键。
短路校正功能操作步骤短路校正包括采用插入计算法的全频短路校正和对所设定的2 个频率点进行的单频短路校正。执行下列操作步骤利用插入计算法对全频率进行短路校正。
按软键 关 ,关闭开路校正功能。以后的测量过程中将不再进行开路校正的计算。短路校正
使用DCI接口可控制外部直流偏流源,偏置电流可达120A。概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。